◎원리

시료에 X선을 조사하면 결정 내 규칙적으로 배열된 원자면에서 X선이 회절되며, 결정 구조에 따라 특정 각도에서 고유한 회절 패턴이 나타납니다.

회절된 X선의 각도와 세기를 측정하여 결정구조와 결정상을 확인하고, 격자 특성 및 결정성 등의 구조적 정보를 분석​할 수 있습니다.

◎특징

· 최대 출력: 9 kW

· Detector: D/tex Ultra 250

· Goniometer: 고분해능 θ-θ 타입

◎활용

· 배터리 양·음극 소재의 결정구조 및 결정상 분석

· 충·방전에 따른 전극 소재의 구조 변화 및 상전이 관찰

· 회절 피크 변화를 통한 격자 구조 및 격자상수(lattice parameter) 변화 분석

· 신규 소재 합성 및 열처리 등에 따른 결정상 형성 및 결정성 평가

· 불순물 및 이차상(secondary phase) 존재 여부 확인

◎적용 시료

양·음극 활물질, 전극 등 이차전지 소재 및 금속, 세라믹, 고분자 등의 결정질·비정질 고체 시료

◎유의 사항

· 분말 시료의 충분한 시료량 확보 및 균일한 충진·표면 평탄화 필요

· 시료의 결정성 및 함량에 따른 회절 피크 검출 한계

· 수분·대기 민감성 시료의 경우 밀폐형 시료 홀더 사용 및 사전 협의 필요